آزمون بای - پرون

در این مطالعه ویژگی های حافظه بلندمدت همراه با شکست های ساختاری بازده شاخص قیمت بورس اوراق بهادار تهران مورد مطالعه قرارگرفته است. برای این منظور نخست با استفاده از روش های نیمه پارامتریک و ناپارامتریک ویژگی های حافظه بلند مدت سری زمانی مورد مطالعه در سه بازه زمانی منتهی به مهرماه 1392 بررسی شده است. نتایج حاصل از این آزمون ها حافظه بلندمدت بودن بازده بورس را برای هر سه بازه زمانی تایید می کنند. با این حال، نتایج مطالعات اخیر نشان می دهند که شواهد حافظه بلندمدت به دست آمده از آزمون های نامبرده می تواند بهعلت شکست های ساختاری موجود در سری زمانی باشد نه بهسبب وجود وابستگی های بلندمدت در آن. بنابراین همراه بامطالعه حافظه بلندمدت از آزمون شیموتسو (2006) برای بررسی صحت پارامتر حافظه بلندمدت در مقابل شکست ساختاری استفاده کرده ایم. نتایج به دست آمده از این آزمونشواهد قوی از (d)I نبودن فرآیند تولید دادهها ارائه می دهد. این نتیجه توسط آزمون اسمیت (2005) نیز مورد تائید قرار می گیرد. نتایج این آزمون نشان می دهد که برخلاف مطالعات پیشین ویژگی حافظه بلندمدت بازده شاخص قیمت بورس، حساسیت بسیاری به دوره های زمانی مورد مطالعه دارد و باید در استنباط ویژگی های حافظه بلندمدت هنگام وجود شکست ساختاری یا تغییر رژیم در سری یادشده دقت کرد. علاوه بر این موارد، احتمالاً تغییر تعاریف و محاسبات شاخص های بورس در طول زمان سبب شکست ساختاری یا انتقال سطح در این شاخص ها و سری های زمانی مرتبط با آنها خواهد شد که باید این تغییرات در تمامی مطالعات شامل سری های زمانی مورد اشاره (اعم از شاخص، بازده و نوسانات) مدنظر قرار گیرد، زیرا عدم لحاظ آنها سبب بروز خطا در نتایج نهایی خواهد شد. به عنوان نمونه، نتیجه حاصل از آزمون حافظه بلندمدت بازده تعدیل شده نسبت به تغییر تعریف شاخص TEPIX نشان می دهد که برخلاف نتایج مطالعات پیشین، سری زمانی بازده شاخص قیمت بورس فاقد حافظه بلندمدت (در بازه مورد مطالعه) است.